高分辨率X射線衍射(HRXRD)標準品,,如NIST SRM 2000,,是一種為HRXRD社區(qū)提供國際單位制(SI)可追蹤的校準標準的材料,。這些標準品為實驗者提供了準確的參考,以確保X射線衍射實驗的結果具有高度的準確性和可靠性,。
NIST SRM 2000標準品的一個單元通常包括標稱50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm雙拋光(100)取向單晶Si,。它提供了關于Si(220) d間距、透射面到晶面晶片以及參考波長的反射中的表面到Si(004)布拉格角等關鍵參數的信息,。
這些高分辨率X射線衍射標準品SRM 2000在材料科學,、物理學、化學和工程學等領域中具有重要的應用,,用于研究材料的晶體結構,、相變、缺陷和應力等性質,。通過使用這些標準品,,研究人員可以準確地校準他們的X射線衍射設備,從而獲得更可靠和準確的實驗結果,。
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