高分辨率X射線衍射(HRXRD)標準品,如NIST SRM 2000,,是一種為HRXRD社區(qū)提供國際單位制(SI)可追蹤的校準標準的材料,。這些標準品為實驗者提供了準確的參考,以確保X射線衍射實驗的結(jié)果具有高度的準確性和可靠性,。
NIST SRM 2000標準品的一個單元通常包括標稱50 nm的25 mm×25 mm×0.725 mm雙拋光(100)取向單晶Si,。它提供了關(guān)于Si(220) d間距、透射面到晶面晶片以及參考波長的反射中的表面到Si(004)布拉格角等關(guān)鍵參數(shù)的信息,。
這些高分辨率X射線衍射標準品SRM 2000在材料科學(xué),、物理學(xué),、化學(xué)和工程學(xué)等領(lǐng)域中具有重要的應(yīng)用,用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu),、相變,、缺陷和應(yīng)力等性質(zhì)。通過使用這些標準品,,研究人員可以準確地校準他們的X射線衍射設(shè)備,,從而獲得更可靠和準確的實驗結(jié)果。
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