產品名稱：標準參考物質 NIST SRM 1976c - X射線粉末衍射儀器響應標準
英文名稱：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction
品牌：美國NIST標準物質
| 產品編號 | 規(guī)格 | 貨期 | 銷售價 | 您的折扣價 |
|---|---|---|---|---|
| SRM 1976c | 1 disc | 4周 | 11175 | 立即咨詢 |
- COA
- MSDS
NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器(標準品)由燒結氧化鋁圓盤組成，用于校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為 2θ 角的函數(shù),。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米,、厚度為 2.2 毫米的燒結氧化鋁圓盤組成,。
材料說明：
用于生產此 SRM 的制造工藝是為生產電子元件基板而開發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結構）,，具有片狀顆粒形態(tài),。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm,。圓盤的壓實過程導致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行,。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結,。未檢測到結晶雜質,。液相燒結中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結溫度冷卻碎片的過程中松弛,。這導致微應變的最小發(fā)展及其相關的線展寬,；盡管可以檢測到一些微應變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬,。鑒于此,，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值,。但是,，不推薦使用 SRM 1976c 進行定量微觀結構分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產運行中制造的,，以確保微觀結構在晶粒尺寸,、形狀、微應變和紋理方面的一致性,。
認證值：
NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值,，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮在內。被測量是表 1 中所示的相對強度（無量綱比）的認證值,，以及表 2 中所示的晶格參數(shù),。計量溯源性是國際單位制 (SI) 單位，相對強度值是維度為一,，對于晶格參數(shù),，維度是長度（以納米表示）。認證值和不確定度是根據 ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計算的,。
信息價值：
與 NIST SRM 1976c X射線粉末衍射儀器(標準品) 認證相關的分析包括計算表 3 中所示的衍射線位置,。為了在各種光學配置的衍射設備上使用
SRM 1976c，必須考慮偏振的影響。表 4 中顯示的值包括偏差
應用于認證值以說明這種影響,。表 3 和表 4 的數(shù)據表示為信息值,。信息值被認為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關的不確定性,。信息值不能用于建立計量溯源性,。
陳經理（銷售）
